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- ESD&Latch-Upテスタ(Model 7500) -

最大128ピン分のデバイスの試験が同時に可能!


モデル7500シリーズは128ピン以内の半導体デバイスで人体モデル(HBM)、機械モデル(MM)の静電気放電に対する信頼性試験やラッチアップ試験ができる試験装置です。
モデル7500では、1軸ロボットに取り付けたESDパルス発生ユニットでESDのモデルを決定します。このため数年に一度は更新される新しい波形規格への対応が、ESDパルス発生ユニットの変更だけで対応できます。

製品カタログ(PDF 245kB)



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- 特徴・機能 -

  • MIL、EIA/JEDEC、JEITA、AEC、ESDA規格に適合
  • 放電波形は社内規格に対応可能
  • ピン数合計128以下で最大10デバイスを同時に試験可能
  • PCモニタ画面上でV-Iカーブを目視確認しながら試験可能
  • ピンコンビネーション試験に完全に対応可能
  • 高速ESD印加可能
  • ロケット搭載用コネクタを搭載しているため、高い信頼性の元、高温器内で使用可能
  • 1ピンに1枚の小型ボードを採用しているため、経路の低インピーダンスを実現し、保守も容易
  • LANに接続して離れた場所から試験条件の設定、試験の開始コマンドの発信、データ収集可能
  • 高温器を接続して最大125度までのラッチアップ試験が可能
  • ラッチアップの特定ポイントをエミッション顕微鏡で検出可能
  • ラッチアップの温度特性測定可能
  • ラッチアップの発生経過のモニタリング可能