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- ESD＆Latch-Upテスタ（Model 7000）-
最大512ピン分のデバイスの試験が同時に可能！
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モデル7000シリーズは標準で最大512ピンまでのESD試験、ラッチアップ(LUP)試験を全自動で行なう事の出来る最新鋭の信頼性評価装置です。7000シリーズには3種のタイプがありE型はESD試験、L型はLUP試験の各専用機、、EL型はESD、LUPテストの兼用機となっております。
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- 特性(一部) -
- 規格対応性：MIL，EIA/JEDEC,AEC,ESDA,EIAJ
- 容易な保守性：ピン･エレクトロニクス方式
- ESDの高速印可性：複数ESDジェネレータと自在にコントロール
- LUPの温度依存性：最大125℃まで
- 仕様 -
ESD印可部
- ピン選択方式：E,EL型：2軸ロボット及びリレーマトリクスによる自動
- 電圧(HV)
- E,EL型：±1000/4500/8000V 1%±5V
- L型 ：±1000V 1%±5V
DC測定部
- VCC1電源(DC兼パルス電源)
- 電圧：±30V/50Mvステップ
- 電流：±500mA/最小100mA分解能(ESD試験時)
- ±1000mA/最小1mA分解能(LUP試験時)
- VCC2〜4(DC電源)
- 電圧：±15V/50mVステップ
- 電流：VCC1と同じ
- VF/IM(精密測定電源)
- 電圧：±15V/10mAステップ
- 電流：100mA/最小分解能10mA
- DVM(デジタル電圧計)
- ip(電源パルス)発生器
- 電流：±1000mA
- 電圧：±30V/50mV分解能
安定化部
- プルアップ(PU)，プルダウン(PD)
- 10kΩ経由でVCC1〜4，MAX H/MIN L，GND等に接続
- DUTとの接続：自動
- 多チャンネル・コントロール電源(VCTL)
- チャンネル数：4CH
- 4CHクロック発生器(4CH CLK)
- 周期、周波数：CH1 10k/100k/MHz選択
- CH2 CH1の逆相
- Ch3 1μs〜100μs/1μsステップ
- CH4 CH3の逆相
- 16CHパターン発生器(16CH PTN)
- チャンネル数：クロック1チャンネル
- ：パターン16チャンネル
- クロック：1μs〜100μs/1μsステップ
寸法・AC入力等
- 本体寸法：1100(W) x 900(H) x 800(D)
- 本体重量：200Kg以下
- AC入力 ：100V±10% 50/60Hz
- 単相 1.5kVA以下
- 温度 ：10℃〜100℃
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KISLOY
